作者洛里·田村，劳伦斯·伯克利国家实验室 研究人员利用紫外光，随着基质层(绿色)数量的增加，探测了2D半导体(紫色)的电子特性
在数据图中，红色圆圈表示一种电子特征，随着基质层的增加，这种特征会减弱
学分:林/伊利诺伊大学香槟分校 原子薄层在技术上很有吸引力，因为当层厚接近2D极限时，会出现潜在的有用的电子特性
这种材料倾向于在层外形成弱结合，因此通常被认为不受提供物理支撑的基底的影响
然而，为了取得进一步的进展，科学家们必须严格测试这个假设，不仅是为了更好地理解单层物理，也是因为基底效应的存在增加了通过调整基底来调整层特性的可能性
据《物理评论快报》杂志报道，伊利诺伊大学香槟分校的蒋泰昌和他的博士后同事孟带领的一个团队，利用伯克利实验室的先进光源(ALS)探测了半导体碲化钛的电子特性随着衬底碲化铂厚度的增加而发生的变化
单层碲化钛对下面的东西高度敏感，使得它作为研究衬底耦合效应的测试用例特别有用
结果表明，随着衬底厚度的增加，单层碲化钛发生了显著的系统性变化
一种被称为电荷密度波的电子现象——单层碲化钛的耦合电荷和晶格畸变特征——被抑制
“实验结果，结合第一性原理理论模拟，导致了单层和可调谐衬底之间的基本量子力学相互作用的结果的详细解释，”林说
鉴于界面结合仍然很弱，研究人员得出结论，观察到的变化与衬底厚度增加时从半导体向半金属的转变有关
“这项系统的研究阐明了衬底相互作用在超薄薄膜物理中的关键作用，”林说
“从我们的工作中得出的科学认识也为设计和工程化超薄薄膜以获得有用的和增强的性能提供了一个框架
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