作者杰夫·福尔克，莱斯大学 莱斯大学的科学家创造了一种开源算法SEMseg，它利用扫描电子显微镜图像简化了纳米粒子分析
学分:兰德斯研究小组/莱斯大学 莱斯大学的科学家们已经开发出一种简单实惠的工具来计算和表征纳米粒子
化学家克里斯蒂·兰德斯(Christy Landes)和斯蒂芬·林克(Stephan Link)的莱斯实验室创建了一个名为SEMseg的开源程序，从扫描电子显微镜(SEM)图像中获取关于纳米粒子(小于100纳米的物体)的数据，否则这些图像很难分析，甚至不可能分析
粒子的大小和形状会影响它们在光电器件、催化剂和传感应用(如表面增强拉曼光谱)中的工作效果
兰德斯和莱斯的研究生拉沙德·拜亚西在美国化学学会的《物理化学杂志》上发表的一项研究中描述了塞姆塞
该程序可从GitHub下载，网址为https://github
com/LandesLab？tab =存储库
扫描电子显微镜——用于扫描电子显微镜分割——源于该团队去年在《科学》杂志上的研究，该研究展示了蛋白质如何被用来将纳米棒推入手性组件
“这项工作就是其中的一个结果，”兰德斯说
“我们意识到没有好的方法来定量分析扫描电镜图像
" 对单个或聚集的纳米棒进行计数和表征通常是通过复杂而昂贵的透射电子显微镜来完成的，这种人工测量容易受到人类偏见的影响，或者程序无法区分粒子，除非它们相距很远
扫描电子显微镜从低对比度、低分辨率的扫描电子显微镜图像中提取像素级数据，并将其重组为清晰的图像
SEMseg可以快速区分紧密堆积的组件和聚集体中的单个纳米棒，以确定每个粒子的大小和方向以及它们之间的间隙大小
这允许对总量进行更有效的统计分析
“在几分钟内，SEMseg可以在大数据集中表征纳米粒子，这需要几个小时的人工测量，”白亚说
他说，分割纳米粒子是指分离和表征聚集体中的每个组成粒子
分离组成的纳米粒子使研究人员能够分析和表征聚集体的异质结构
柏亚西说，SEMseg可以适用于原子力显微镜等其他成像技术，也可以扩展到其他纳米粒子形状，如立方体或三角形
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