X射线良好渗透到样品中 - 它们允许您查看H.在电池内部充电和放电，例如 - 但历史上，它们未能在空间上具有相同的精密电子可以
但是科学家们正在努力改善X射线技术的图像分辨率
一种这样的方法是X射线断层扫描，其能够使材料内部的非侵入性成像进行
，例如，如果要映射微电路的复杂性，或追踪神经元大脑而不摧毁你正在看的材料，你需要X射线断层扫描，且分辨率越好，你可以通过X射线束追踪的现象越小
到那样，一组由U引导的科学家
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能源（DOE）argonne国家实验室创造了一种新方法，用于改善硬X射线纳米图的分辨率
（纳米图像是纳米等数的X射线成像
为了比较，平均人的头发是100,000纳米宽
）该团队使用高级光子源（APS）的强大X射线束构成高分辨率X射线显微镜，并将新的计算机算法创建给补偿以微小的尺度遇到的问题
使用这种方法，该团队实现了低于10纳米的分辨率
“我们希望在10纳米或更好，“Argonne X射线科学司（XSD）的光学组的物理学家Michael Wojcik说：”我们为纳米分析开发了这一点，因为我们可以更快地获得10纳米范围内的3D信息而不是其他方法，但是光学和算法适用于其他X射线技术以及在包括APS的横梁32-ID处使用内部传输X射线显微镜（TXM）的其他X射线技术Wojcik在纳米级材料中心（CNM）中的镜头 - 该团队能够使用X射线的独特特征，并在大约一个小时内实现高分辨率3D图像
但即使这些图像也没有非常处于期望的分辨率，因此该团队设计了一种新的计算机驱动技术，进一步改进它们
主要问题，该团队试图纠正的是样品漂移和变形
在这些小刻度上，如果样品在光束内移动，甚至通过近几纳米移动，或者X射线束也导致最轻微的变化样品本身，结果将是样品的3D图像上的运动伪影
这可以使随后的分析更加困难样品漂移可能是由各种各样的东西引起的小规模，包括温度的变化
要执行断层扫描，样品也必须非常旋转在光束内，这可能导致看起来像数据中的样本漂移的运动错误
argonne团队的新算法用于删除这些问题，导致更清晰和更清晰的3D图像
“我们开发了一种弥补漂移和变形的算法，”Viktor Nikitin，Argonne的XSD中的研究助理
“”在应用标准3D重建方法时，我们在16纳米范围内实现了分辨率，但是随着算法，我们将其降至10纳米
“”研究小组以几种方式测试了其设备和技术
首先，他们捕获了2D和3D图像，带有16纳米的小板 - 西北大学肯尼尔省制造的广泛功能，现在在Doe的Slac National Accelerat或实验室
它们能够在板结构中的微小缺陷然后将其在实际的电化学能量存储装置上测试，使用X射线对等体进行对等并捕获高分辨率图像
Vincent de Andrade，在这项研究中Argonne的一个波束线科学家，是纸质的主要作者
“即使这些结果很出色，”他说，“那里这种新技术仍然是很多空间，以便更好地
“”这种仪器和技术的能力将在光学和探测器上进行持续的研发工作，并将受益于正在进行的升级APS
完成后，升级的设施将产生高能量的X射线束，高达500梁比目前可能的时间更亮，X射线光学器件的进一步前进将使具有更高分辨率更高的较窄的光束
“”升级后，我们将推动八个纳米，下面，“Nikitin说：
“我们希望这将是一个强大的研究工具，较小，更小的秤”“团队的研究”在先进的材料中公布了
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