高压科学技术高级研究中心 压缩下氢的IXS光谱和插图显示带隙能量变窄为密度的函数
信用:李兵 利用一种新开发的最先进的同步加速器技术，一组由Dr
HPSTAR的主任毛浩光进行了第一次高达90 GPa的固体氢的电子带隙信息的高压研究
他们创新的高压非弹性x光散射结果可作为直接测量氢金属化过程的试验，并为解决致密氢的电子弥散提供了可能性
这项工作发表在最近一期的《物理评论快报》上
氢的电子带从宽禁带绝缘体到封闭禁带金属或金属氢的压力诱导演化，是现代物理学中长期存在的问题
然而，氢的高能量阻止了电子带隙在压力下被直接观察到
现有的探针，如电导率、光吸收或反射光谱测量，是有限的，并且提供的关于宽间隙绝缘体的信息很少
“以前所有关于绝缘氢在压缩状态下的带隙的研究都是基于一个使用光学测量的间接方案，”Dr
毛式服装
该团队利用高亮度、高能量的同步辐射开发了一种非弹性的x光(IXS)探测器，在金刚石砧座的高压下原位产生氢的电子带信息
“我们为这个项目开发的数模转换器-IXS技术需要一个由同步加速器非弹性x光光谱学、仪器和超高压技术的许多专家组成的国际团队在五年多的时间内完成，”博士说
第一作者李兵
“实际上，这个项目的真正开始可以追溯到20多年前，这些结果是所有准备和实验的高潮
这是团队巨大努力和才能的真实证明
毛式服装
新颖的IXS探针技术能够测量45电子伏的不可及的大范围紫外能量范围，显示了致密氢的电子态密度和带隙是如何随压力而变化的
电子带隙从10线性减小
9 eV至6
57 eV，8
从零压力到高达90 GPa的6倍致密化
亚微米到纳米尺度的x光探针的先进同步加速器能力的这些发展只会扩大未来实验的可能性
IXS向更高压力的进展可以使第二-第五相的半导体区域触手可及，并使通过直接和定量的电子带隙测量研究氢金属化成为可能
这项工作克服了巨大的技术挑战，首次实现了对氢的电子带及其间隙的直接实验测量
来源：由phyica.com整理转载自PH，转载请保留出处和链接！
