中国科学技术大学 天线和入射光场之间的近场相互作用模式
信用:臧天阳等
教授领导的微纳光学与技术研究小组
陆永华和教授
中国科学院科技大学的王佩通过照明光场与光学天线的相互作用实现了纳米位移测量
这项研究发表在《物理评论快报》上
光学计量特别重要，因为它允许以非接触的高精度方式测量距离或位移
然而，尽管干涉测量方法在纵向位移测量中有广泛的应用，例如激光雷达、激光测距和小振动测量，但是垂直于光束方向的横向位移很难通过传统方法检测
研究人员提出了一种基于表面等离子体激元定向激发的新技术
他们首先在聚焦的厄米-高斯(HG) (1，0)模式光的照射下，用一对光学缝隙天线激发非对称SPPs
然后，通过在油浸物镜的后焦平面检测SPP泄漏，他们灵敏地测量横向位移
与先前的检索自由散射信号的策略不同，即使采用弱测量技术，该策略仍然具有挑战性，SPP泄漏模式在空间上与缝隙天线的前向散射分离，因此可用于监测后焦平面中的位移
他们系统的分辨率达到亚波长水平(~0
3 nm)
然而，极限分辨率可以低至埃级
它有可能应用于超分辨率显微术、半导体光刻和纳米器件的校准
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